Científicos han ideado una nueva estrategia para recuperar datos almacenados en teléfonos móviles (celulares) inteligentes (smartphones) con el fin de obtener pruebas forenses en casos de crímenes.
El avance se encuadra dentro del proyecto europeo EXFILES, en el que ha participado el Instituto de Microelectrónica de Barcelona (IMB), dependiente del Centro Nacional de Microelectrónica (CNM) del Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) en España.
En el proyecto también han participado 13 centros de investigación, empresas y agencias de aplicación de la ley.
Concretamente, el Instituto de Microelectrónica de Barcelona ha contribuido al desarrollo de nuevas técnicas y herramientas que han permitido recuperar, hasta el momento, la información contenida en 400 teléfonos móviles inteligentes (smartphones) que se habían utilizado en diversos casos de crímenes reales.
En algunos casos, EXFILES ha permitido reducir el tiempo de análisis en comparación con los procedimientos anteriores,
En otros, “ha permitido recuperar información que era inaccesible con los métodos existentes, especialmente en los teléfonos más modernos”, explica Salvador Hidalgo, investigador principal del IMB en el proyecto.
Los procedimientos desarrollados en el proyecto facilitarán los trabajos de análisis forense de los teléfonos inteligentes, lo que permite el acceso a una información que puede ser relevante para resolver casos policiales.
Los casos en los que se ha aplicado han sido cerrados con éxito y son confidenciales.
La propuesta de EXFILES era mejorar las técnicas y métodos para la obtención de pruebas digitales al alcance de los grupos oficiales de electrónica forense, para su utilización en el análisis de los smartphones utilizados por criminales, mediante un enfoque integral que abarcase tanto el uso de herramientas de software como de hardware.
El logro más importante ha sido su uso combinado junto con los procedimientos, técnicas y herramientas desarrolladas en el proyecto.
“El uso colaborativo de herramientas de software y hardware llevó a la definición de 21 escenarios de análisis sobre seis modelos de teléfonos distintos.
Como resultado directo, se logró acceder a unos 400 dispositivos pertenecientes a casos reales.
La combinación de las herramientas desarrolladas, junto a métodos de Ataque por Canal Lateral (SCA, Side-Channel Attack) y de Inyección de Fallos (FI, Fault Injection) en Sistemas Integrados en Chips (SoC, System on Chip), han sido las innovaciones más importantes”, agrega Jofre Pallarès, investigador del IMB.
Las técnicas mencionadas son ampliamente utilizadas en el análisis de dispositivos electrónicos.
El método de Ataque por Canal Lateral se basa en el análisis de las señales que un sistema electrónico genera durante su funcionamiento y que pueden ser utilizadas para acceder a la información con la que trabaja.
Por otra parte, la Inyección de Fallos persigue llevar a un chip (circuito integrado) a trabajar en estados no considerados durante su diseño para propiciar modificaciones en su funcionamiento que afecten a la seguridad e integridad de la información procesada.
El Grupo de Ingeniería Inversa del IMB-CNM (REG) ha trabajado principalmente en los métodos de análisis hardware, siendo clave sus investigaciones para desarrollar nuevos métodos de descifrado de teléfonos móviles.
Fuente: Noticias de la Ciencia
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